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E+H 导波雷达物位计FMP45-AAKRGJB21A2Y

更新时间:2018-12-25

简要描述:

E+H导波雷达物位仪特别适用于液体和固体的物位测量。反射波安全传输使得介质表面条件影响甚微。扰动液体表面或泡沫形成,以及不同弯曲表面或熔炉出口不会影响测量。导波雷达是界面测量的优选

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E+H Levelflex导波雷达物位计/仪
导波雷达传物位仪在液体和固体中进行连续物位测量

在导波雷达物位测量中,Levelflex自顶向下安装,满足所有行业应用要求。导波雷达调试简单、无故障操作方式,节省时间和成本。应用广泛:可以在简单储罐中,在腐蚀性介质中或严重粉尘应用中测量。点击以下按钮查看更多Levelflex导波雷达物位仪。在导波雷达物位测量中,Levelflex自顶向下安装,满足所有行业应用要求。导波雷达调试简单、无故障操作方式,节省时间和成本。应用广泛:可以在简单储罐中,在腐蚀性介质中或严重粉尘应用中测量。

导波雷达物位仪特别适用于液体和固体的物位测量。反射波安全传输使得介质表面条件影响甚微。扰动液体表面或泡沫形成,以及不同弯曲表面或熔炉出口不会影响测量。导波雷达是界面测量的优选


E+H Levelflex导波雷达物位计/仪
导波雷达传物位仪在液体和固体中进行连续物位测量

在导波雷达物位测量中,Levelflex自顶向下安装,满足所有行业应用要求。导波雷达调试简单、无故障操作方式,节省时间和成本。应用广泛:可以在简单储罐中,在腐蚀性介质中或严重粉尘应用中测量。点击以下按钮查看更多Levelflex导波雷达物位仪。在导波雷达物位测量中,Levelflex自顶向下安装,满足所有行业应用要求。导波雷达调试简单、无故障操作方式,节省时间和成本。应用广泛:可以在简单储罐中,在腐蚀性介质中或严重粉尘应用中测量。

导波雷达物位仪特别适用于液体和固体的物位测量。反射波安全传输使得介质表面条件影响甚微。扰动液体表面或泡沫形成,以及不同弯曲表面或熔炉出口不会影响测量。导波雷达是界面测量的优选

导波雷达测量基于行程时间原理工作

导波雷达测量:测量原理
Levelflex使用高频雷达脉冲工作,脉冲沿探头发射和传播。脉冲触及介质表面,介电常数值(相对介电常数)的变化导致部分发射脉冲被反射。仪表测量和分析脉冲发送和接收间的行程时间,直接测量过程连接和介质表面间的距离。

优势
可靠测量:不受介质表面和罐体内部装置或挡板的影响
底部回波算法(EoP)使得测量更加安全
在加料过程中也能安全测量


E+H料位计产品型号:

FMP40-ABB3GRJB21AA
FMP45-AAKRGJB21A2A
FMP45-AAKRGJB21A2Y
FMP50-AAACCAAAA1GDJ+AK
FMP51-AAACCAACB3CRJ+AK
FMP51-BBACCDBAB3ATJ+LA L=2400mm
FMP54-NCCECBUAD2PNJ+AKEFF4JAKPLA
FMP55-AAACCANACFK+AK(L=3.5米)
FMP57-AAACALCA4GDE+LA
FMP57-AAACCALAA4CQJAK L=4000MM
FMP57-AALCCALCA4GGE+LA L=13500mm
FMR10-AAQBMWDEWFE2+R7

 

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